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广西省自然科学基金(0135024)

作品数:3 被引量:7H指数:1
相关作者:张勇谈恩民更多>>
相关机构:桂林电子工业学院更多>>
发文基金:广西省自然科学基金更多>>
相关领域:电气工程自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 2篇电气工程
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇BIST
  • 3篇MARCH算...
  • 2篇遗传算法
  • 2篇网络
  • 2篇可编程存储器
  • 2篇互连
  • 2篇互连测试
  • 2篇故障诊断
  • 2篇编程
  • 2篇BP网
  • 2篇BP网络
  • 2篇存储器
  • 1篇自测试
  • 1篇内建自测试
  • 1篇可靠性
  • 1篇SRAM

机构

  • 2篇桂林电子工业...
  • 1篇桂林电子科技...

作者

  • 3篇谈恩民
  • 1篇雷加
  • 1篇颜学龙
  • 1篇尚玉玲
  • 1篇张勇
  • 1篇张勇

传媒

  • 2篇电子测量与仪...
  • 2篇2004全国...
  • 1篇桂林电子工业...

年份

  • 5篇2004
3 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
边界扫描的互连测试故障诊断技术研究被引量:1
2004年
影响边界扫描测试效基于遗传算法,建立了板级边界扫描系统的遗传模型,生成了高效、优化的PCB测试矢量集.在此矢量集的基础上,分析了互连测试中主要的故障模型,进行了基于BP神经网络的故障建模与诊断.并实际验证了该算法的正确性.
尚玉玲
关键词:遗传算法BP网络
板级SRAM的内建自测试(BIST)设计被引量:5
2004年
板级SRAM的内建自测试的设计,是为了确保板级SRAM的可靠性。考虑到板级SRAM各种故障模型,选择使用MarchC-SOF算法,其对呆滞故障、跳变故障、开路故障、地址译码器故障和字节间组合故障有100%的故障覆盖率,优化面向"字节"的MarchC-SOF算法和扩展延时元素后,算法可对SRAM进行字节内组合故障和数据维持力故障测试。同时在只增加少量成本的情况下,使用FPGA构成存储器的BIST控制器,可以满足SRAM的可测性的要求。
张勇谈恩民
关键词:SRAMMARCH算法BIST可靠性
一种新型的可编程存储器BIST设计
本文提出一种新型的可编程存储器BIST控制器设计。它使用新型的指令格式,可以实现各种March算法。通过使用这种指令格式能减少指令数据量和字节内故障的测试时间。为了进行诊断测试,在BIST控制器设计中加入诊断模块,能够输...
谈恩民张勇
关键词:BISTMARCH算法
文献传递
边界扫描的互连测试故障诊断技术研究
影响边界扫描测试效率的关键之一是测试矢量链与故障诊断能力。本文以高密度PCB为测试对象,基于遗传算法,建立了板级边界扫描系统的遗传模型,生成了高效、优化的PCB测试矢量集。在此矢量集的基础上,分析了互连测试中主要的故障模...
尚玉玲谈恩民颜学龙雷加
关键词:遗传算法BP网络
文献传递
一种新型的可编程存储器BIST设计被引量:1
2004年
本文提出一种新型的可编程存储器BIST控制器设计.它使用新型的指令格式,可以实现各种March算法.通过使用这种指令格式能减少指令数据量和字节内故障的测试时间.为了进行诊断测试,在BIST控制器设计中加入诊断模块,能够输出故障地址和故障操作.
谈恩民
关键词:BISTMARCH算法
共1页<1>
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