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西安应用材料创新基金(XA-AM-2010008)

作品数:1 被引量:1H指数:1
相关作者:徐进朋尤一龙刘林林李尊朝更多>>
相关机构:西安交通大学更多>>
发文基金:西安应用材料创新基金陕西省科学技术研究发展计划项目国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇短沟道
  • 1篇短沟道效应
  • 1篇氧化物半导体
  • 1篇全耗尽
  • 1篇阈值电压
  • 1篇金属氧化物半...
  • 1篇金属氧化物半...
  • 1篇沟道
  • 1篇沟道效应
  • 1篇半导体
  • 1篇表面势
  • 1篇场效应
  • 1篇场效应管

机构

  • 1篇西安交通大学

作者

  • 1篇李尊朝
  • 1篇刘林林
  • 1篇尤一龙
  • 1篇徐进朋

传媒

  • 1篇西安交通大学...

年份

  • 1篇2011
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
全耗尽围栅金属氧化物半导体场效应管二维模型被引量:1
2011年
针对深亚微米围栅金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的短沟道效应随沟道长度减小而愈加明显,以及移动电荷在器件强反型区对表面势影响显著的问题,提出了一种全耗尽围栅MOSFET二维模型.同时考虑耗尽电荷和自由电荷的影响,结合沟道与氧化层界面处的边界条件,求解一维泊松方程,得到一维电势分布模型,然后结合器件源漏处的边界条件求解拉普拉斯方程,最终得到全耗尽围栅MOSFET精确的二维表面势模型,并在此基础上得到了阈值电压、亚阈值斜率等电学参数的解析模型.利用Sentaurus软件对解析模型进行了验证,结果表明:该模型克服了本征模型在重掺杂情况下失效和仅考虑耗尽电荷的模型在强反型区失效的缺点,在不同沟道掺杂情况下从亚阈值区到强反型区都适用;与原有模型相比,该阈值电压模型的误差减小了45.5%.
刘林林李尊朝尤一龙徐进朋
关键词:表面势阈值电压短沟道效应
共1页<1>
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