国家高技术研究发展计划(2006AA03A110)
- 作品数：4 被引量：7H指数：2
- 相关作者：李书平康俊勇姜伟刘达艺郑江海更多>>
- 相关机构：厦门大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划厦门市科技计划项目更多>>
- 相关领域：理学电子电信更多>>
- GaN半导体中InN量子点的结构性质(英文)被引量：4
- 2007年
- 采用第一性原理模拟计算纤锌矿结构GaN半导体中InN量子点的结构性质。建立64和128个原子的超原胞量子点模型,进行结构优化以获得稳定的吻合实际的系统,并模拟分析电子结构。从态密度空间分布图看到不同轴向的量子势阱形状各异、深度不一,说明量子点的限域效应存在着各向异性的特点。c轴极化方向引起量子点结构带边的弯曲形状与传统的量子阱结构不同,使得电子空穴没有发生空间分离,有利于电子空穴的跃迁几率的提高。
- 陈珊珊郑江海李书平康俊勇
- 关键词：量子点量子限域效应电子态密度
- AlN薄膜的椭圆偏振光谱模型研究
- 2007年
- 采用椭圆偏振光谱对MOCVD生长的AlN薄膜在波长430~850 nm的光学参数进行了测量.通过建立不同的物理和色散模型,分别考察了薄膜表面和界面的椭偏效应.拟合结果表明,AlN薄膜的物理模型在引入表面层后,两类色散模型拟合的数据均与椭偏光谱实验数据吻合得很好.进一步考虑界面层所拟合的结果显示,界面层对Lorentz色散模型的影响较小,并且,其拟合所得AlN薄膜厚度与扫描电镜所测厚度一致,因此,认为仅含表面层的Lorentz色散模型更简单实用.
- 姜伟李书平刘达艺康俊勇
- 关键词：ALN光学常数
- GaN薄膜光学常数的椭圆偏振光谱研究被引量：1
- 2007年
- 采用椭圆偏振光谱法,在1.5~6.5 eV光谱范围研究了纤锌矿结构GaN外延薄膜.通过物理模型建立和光谱拟合得到了GaN外延薄膜的厚度和光学常数.所得厚度值与扫描电子显微镜测量的结果相差仅为0.4%.表明所采用的模型和Cauchy吸收色散表式适用于GaN薄膜.进一步采用四相逐点拟合算法得到更全面更准确的GaN薄膜光学常数.
- 俞金玲姜伟李书平刘达艺康俊勇
- 关键词：椭圆偏振光谱GAN光学常数
- 具有缺陷态的二维光子晶体通讯波长滤波器的结构优化设计被引量：2
- 2007年
- 采用平面波展开法分别模拟设计了理想和带有点缺陷与线缺陷的二维光子晶体能带结构;进一步构建具有点缺陷和线缺陷联合结构滤波器,通过改变介质折射率、介质柱半径和背景材料折射率,使点缺陷的滤波中心波长处于光子晶体禁带中的1.31和1.55μm两个主要通迅波长.同时,采用时域有限差分算法模拟滤波器的传播和滤波频谱特性,结果显示,该结构滤波器的滤波频谱中心波长刚好分别位于1.31和1.55μm,透射峰尖锐,显现出优良的滤波特性.
- 郑渝徐群和李书平康俊勇
- 关键词：光子晶体光子禁带缺陷态滤波器
