国家自然科学基金(60242001)
- 作品数：2 被引量：8H指数：2
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- 应用于逻辑核的BIST关键技术研究
- 随着集成电路工艺进入深亚微米阶段后,电路复杂度的不断提高,特别是片上系统 （system on achip,SOC）的不断发展,主要包括验证测试和制造测试的芯片测试,正在面临着巨大的挑战,传统的使用自动测试设备的测试方法...
- 李吉徐勇军韩银和李晓维
- 关键词：可测性设计
- 针对串扰引起的时延故障的测试产生被引量：4
- 2004年
- 串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障 因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待 由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间 ,因此容易因为串扰问题产生时延故障 针对这类故障给出了一个考虑较长通路上串扰现象的时延故障测试产生算法 ,该算法采用了波形敏化技术 实验结果表明 。
- 张月李华伟宫云战李晓维
- 关键词：串扰时延故障
- 一种SOC总线系统的模拟验证方法
- 随着工艺的发展,片上系统（System On a Chip,SOC）设计已经成为大规模集成电路设计中的热门领域。伴随着系统规模的扩大和复杂性的增加,设计验证已经成为SOC设计中的一个巨大的挑战。SOC不同于普通ASIC的...
- 岳华伟徐勇军张志敏易波
- 关键词：片上系统
- 提取极小布尔不可满足子式
- 本文研究了提取极小布尔不可满足子式的算法。它分为近似算法和精确算法两种,该文提出了局部预先赋值的优化方案。并且在理论上证明了它的正确性,更进一步通过实验说明了该算法在效率上获得的提高。此外通过模拟实验观察到DPLL近似提...
- 邵明李光辉李晓维
- 文献传递
- 针对线间串扰现象的静态定时分析
- 超深亚微米工艺下,线间串扰是导致电路故障的主要的原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量是巨大的,但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此,如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析,找出那些导致电路故障的线间串扰,...
- 沈培福李华伟
- 关键词：串扰时延测试
- 文献传递
- 基于指令集的处理器时延测试产生方法
- 随着半导体工艺的发展,微处理器的时延测试面临着越来越多的问题,基于指令集的处理器时延测试产生是一种很好的尝试方法。它能在处理器的正常操作模式运行处理器自身的指令来进行测试。本文针对处理器的数据通路中的通路时延故障提出一种...
- 方红霞李华伟李晓维
- 关键词：时延测试指令集处理器通路
- 文献传递
- 芯片的验证分析及测试流程优化技术
- 本文针对个款采用0.18微米工艺流片的高性能通用处理器芯片进行了失效分析,并提出了一种针对失效分析结果的测试流程优化算法。文章首先分析了不同测试项目对于该款处理器失效的发现能力,并得出一些结论.芯片失效分析的信息可以被整...
- 韩银和李晓维罗飞茵林建京陈宇川朱小龙
- 关键词：动态规划算法启发式搜索算法
- 文献传递
- 基于混合遗传算法的RTL激励生成方法
- 寄存器传输级（简称RTL）描述是目前应用最广泛的电路设计描述形式之一。在时序电路的RTL激励生成中,基于模拟的方法避免了帧扩展法庞大的搜索空间,但采用该方法常存在向量数目过多,质量不高等问题。本文充分考虑影响算法效率的各...
- 鲁巍杨修涛李晓维
- 关键词：混合遗传算法
- 文献传递
- 基于对平衡的SOC测试调度算法
- 随着越来越多的芯片设计采用已经过验证的IP（Intellectual Property,IP）芯核组建系统芯片,芯片的测试的复杂度大大提高,导致需要更长的时间完成系统芯片的测试。不同于以往基于单个芯核扫描链平衡的调度技术...
- 胡瑜韩银和李华伟吕涛李晓维
- 关键词：测试调度系统芯片粒子群优化算法
- 文献传递
- 考虑串扰影响的时延测试被引量：5
- 2003年
- 超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题。本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法。该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生,大大提高了算法的效率。实验表明,以该算法实现的系统可以在一个可接受的时间内,对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生。
- 张月李华伟宫云战李晓维
- 关键词：集成电路集成度串扰时延测试
