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贵州省科学技术基金(J[2009]2273)

作品数:2 被引量:0H指数:0
相关作者:王义梁蓓游子毅杨健更多>>
相关机构:贵州师范大学贵州大学更多>>
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相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇低功耗
  • 2篇低功耗测试
  • 2篇电路
  • 2篇电路测试
  • 2篇集成电路
  • 2篇集成电路测试
  • 2篇功耗
  • 2篇功耗测试
  • 1篇自测试
  • 1篇列生成
  • 1篇内建自测试
  • 1篇计数器
  • 1篇测试生成器
  • 1篇测试序列生成

机构

  • 2篇贵州师范大学
  • 1篇贵州大学

作者

  • 2篇王义
  • 1篇杨健
  • 1篇游子毅
  • 1篇梁蓓

传媒

  • 1篇微型机与应用
  • 1篇中北大学学报...

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
集成电路低功耗测试生成器的研究
2011年
分析了CMOS集成电路的功耗来源,介绍了CMOS集成电路的低功耗测试向量生成器的电路结构.为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率,提高相邻测试向量之间的相关性,研究了随机单输入跳变测试向量生成器和基于可配置二维线性反馈移位寄存器测试向量生成器的实现方案.给出了内建自测试环境下的电路测试结构图,可以在不损失故障覆盖率的前提下,降低被测电路的开关翻转活动率,实现测试期间的低功耗,适合于CMOS集成电路的内建自测试.
王义游子毅
关键词:集成电路测试低功耗测试
基于计数器的随机单输入跳变测试序列生成
2010年
分析了CMOS逻辑电路的功耗来源,对低功耗内建自测试技术进行了研究。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率,提高测试向量之间的相关性,研究了随机单输入跳变测试生成序列,可以在不损失故障覆盖率的前提下,降低被测电路的开关翻转活动率,实现测试期间的低功耗,特别适合于数字集成电路的内建自测试。
梁蓓杨健王义
关键词:集成电路测试内建自测试低功耗测试
共1页<1>
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