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重庆市科技攻关计划(2004AC4034)
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离子注入法制备N掺杂P型ZnO薄膜
2008年
采用离子注入技术对射频磁控溅射制备的ZnO薄膜进行N掺杂,通过退火实现了ZnO薄膜的p型转变。利用X射线衍射(XRD)和Hall实验对样品热退火前后的性能进行了研究。实验数据表明,该掺杂方法能得到稳定的p型ZnO薄膜,其电学性能随热退火温度的升高和时间的延长而进一步改善,其中在950℃、7min退火条件时,载流子浓度为1.68E+16cm^(-3),电阻率为41.5Ω·cm。
朱仁江
孔春阳
秦国平
王楠
戴特力
方亮
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氧化锌薄膜
P型
离子注入
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