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北京市优秀人才培养资助(PYZZ090410001908)

作品数：1 被引量：0H指数：0
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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇硬件
  • 1篇晶体管
  • 1篇HFE

机构

  • 1篇北京自动测试...

作者

  • 1篇王鑫
  • 1篇马新国
  • 1篇李力军

传媒

  • 1篇电子测试

年份

  • 1篇2012
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
晶体管HFE参数的快速测试方法
2012年
随着国内半导体分立器件生产规模的发展,晶体管生产厂家及使用单位对晶体管测试速度的要求越来越高,而制约测试速度最主要的因素就是HFE参数的测试速度远远达不到现在生产的需要。本文在探讨晶体管HFE参数的通用测试方法不足的基础上,提出晶体管HFE参数先进的快速测试方法。依据此方法并结合现有半导体分立器件测试系统,主要通过硬件配合在测试系统内构造出晶体管HFE参数的快速测试单元,把测试速度由原来的1000ms提高到15ms,实现了从测试方法到技术成果的转化。
马新国李力军王鑫
关键词：HFE
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