您的位置: 专家智库 > >

武器装备预研基金(9140C03010309DZ15)

作品数:1 被引量:4H指数:1
相关作者:周斌邱宝军更多>>
相关机构:电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室更多>>
发文基金:武器装备预研基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇镀层
  • 1篇金属
  • 1篇金属间化合物
  • 1篇焊点
  • 1篇焊盘
  • 1篇ENIG

机构

  • 1篇电子元器件可...

作者

  • 1篇邱宝军
  • 1篇周斌

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2010
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
ENIG焊点的失效机理及镀层重工方法研究被引量:4
2010年
采用显微形貌、微观结构和元素成分分析等物理分析方法,以不同类型的化镍浸金(electroless nickel/immersion gold,ENIG)基板为对象,分析了其焊点在不同情形下的失效模式和失效机理,阐述了"黑盘"缺陷的主要失效特征,研究了具有黑盘缺陷的化镍浸金基板的重工工艺。研究结果显示,Ni层断裂表面单一的高P含量或轻微Ni层腐蚀不能作为黑盘缺陷的唯一依据,已形成良好金属间化合物(intermetallic compound,IMC)层的Ni层腐蚀位置的焊接界面仍具有良好的机械结合强度,采用喷锡工艺(hot air solder level,HASL)对具有黑盘缺陷的化镍浸金基板进行重新处理切实可行。
周斌邱宝军
关键词:焊点金属间化合物
共1页<1>
聚类工具0