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国家自然科学基金(61102012)

作品数:11 被引量:33H指数:4
相关作者:尚玉玲陈寿宏颜学龙谈恩民胡晓更多>>
相关机构:桂林电子科技大学江苏大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金广西教育厅科研项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信理学更多>>

文献类型

  • 11篇中文期刊文章

领域

  • 9篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇扫描测试
  • 2篇互连
  • 2篇互连测试
  • 2篇故障诊断
  • 2篇边界扫描测试
  • 2篇SOC测试
  • 2篇TCL语言
  • 2篇测试矢量
  • 1篇信号
  • 1篇信号完整性
  • 1篇遗传算法
  • 1篇噪声
  • 1篇软件系统
  • 1篇数据库
  • 1篇退火算法
  • 1篇退火遗传算法
  • 1篇嵌入式
  • 1篇嵌入式数据库
  • 1篇嵌入式数据库...
  • 1篇总线

机构

  • 11篇桂林电子科技...
  • 1篇江苏大学

作者

  • 7篇尚玉玲
  • 6篇陈寿宏
  • 5篇颜学龙
  • 3篇谈恩民
  • 2篇胡晓
  • 1篇陈凯
  • 1篇李泱
  • 1篇陈林艳
  • 1篇黄新
  • 1篇曲理
  • 1篇耿建平
  • 1篇刘晓丽
  • 1篇朱峰
  • 1篇黄小容
  • 1篇石光耀

传媒

  • 6篇计算机测量与...
  • 1篇计算机工程
  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇国外电子测量...
  • 1篇现代计算机(...
  • 1篇桂林电子科技...

年份

  • 2篇2015
  • 5篇2014
  • 3篇2013
  • 1篇2012
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
BGA焊点形态和布局对信号完整性的影响被引量:10
2013年
为了研究BGA焊点形态和布局对反射和串扰的影响,基于三维全波电磁仿真软件HFSS,建立了BGA焊点的三维模型,研究BGA焊点的形态(高度、最大外径和焊点端口直径)以及布局对反射和串扰的影响。结果表明,随信号频率、焊点高度、焊点最大外径和焊点端口直径的增大,回波损耗增大;焊点的形态对相邻焊点串扰影响不明显;焊点串扰噪声受相邻焊点影响最大,对角线焊点次之。
石光耀尚玉玲曲理
关键词:BGA焊点信号完整性回波损耗串扰噪声
USB—1149.1边界扫描控制器的设计与实现被引量:2
2014年
随着支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,边界扫描技术得到了迅速发展;根据该标准,提出了一种基于USB总线的边界扫描控制器的设计方案;该方案采用CY7C68013作为USB2.0接口控制器,JTAG主控单元使用测试总线控制器ACT8990;依据该方案设计的控制器能够完成USB协议和JTAG协议的相互转换,生成符合IEEE1149.1标准的测试信号;实验以内测试为例,验证该控制器能够正常工作;在此基础上进行了其他功能测试;实验结果表明,该控制器能够完成对数字电路的边界扫描测试,并能初步判断故障类型,具有测试方便、传输速度快等特点,提高了测试效率。
耿建平陈林艳尚玉玲
关键词:JTAGUSB总线
嵌入式数据库SQLite在边界扫描测试系统中的应用被引量:2
2014年
为提高边界扫描测试效率,设计并开发了一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统.简单陈述了嵌入式数据库SQLite技术、边界扫描测试原理,阐述了边界扫描测试软件模块功能设计和测试数据处理实现方法.测试结果表明,嵌入式数据库SQLite解决了边界扫描测试系统中存在的数据管理问题,提高了数据存储和读取效率,节省了处理数据所占用的资源,降低系统成本,具有较好的应用前景.
胡晓谈恩民陈寿宏尚玉玲
关键词:嵌入式数据库SQLITE软件系统
基于SPEA-Ⅱ算法的SoC测试多目标优化研究被引量:6
2015年
测试功耗、测试时间是SoC测试优化中的两个测试目标,它们之间存在相互影响的关系。在多目标优化过程中,进化算法对于解决多目标优化问题拥有比较好的优化效果,因此各种进化算法被广泛地应用于SoC测试多目标优化的研究中。对SoC测试时间、测试功耗这两个测试目标建立联合优化模型,分析了NSGA-Ⅱ算法与SPEA-Ⅱ算法的特点,并对改进型强度Pareto进化算法(SPEA-Ⅱ)进行研究,进而将SPEA-Ⅱ算法用于上述所建立模型的求解。使用ITC’02标准电路中p93791电路和d695电路对上述方法进行实验验证,实验数据表明上述方法可以求得该联合优化模型的一组最优解;并且针对p93791电路,在与NSGA-Ⅱ算法的实验数据比较中,得到了更好的优化结果。证明了SPEA-Ⅱ算法对SoC测试结构优化方面具有良好的适用性和可行性。
谈恩民朱峰尚玉玲
关键词:SOC测试测试功耗
模拟信号扩展互连测试自动测试矢量生成研究
2012年
模拟电路网络的自动测试矢量生成是混合信号测试研究的重点和难点,以IEEE1149.4标准为基础,建立模拟电路网络测试的模型及测试方法,并提出一种适用于模拟扩展互连测试自动测试矢量生成的算法,基于此方法,构建了相应的软件测试系统,通过编译Protel网表文件、BSDL文件、自定义测试模型流程文件及扫描单元真值表文件,提取相关信息,完成测试矢量的自动生成;结果显示,该算法产生的测试矢量可准确控制内部开关的导通,形成测试通路,满足模拟扩展互连测试的要求。
尚玉玲刘晓丽
基于IEEE 1500的数字SOC测试系统的设计与实现被引量:1
2013年
IEEE 1500为核供应者与核应用者提供接口,可有效实现测试电路复用。简要分析IEEE 1500标准,包括核测试壳Wrapper及核测试语言(CTL)两者的结构和特点;论述基于IEEE 1500的数字SOC测试系统的总体设计目标,设计了测试系统的软硬件体系结构,并构建了测试系统;通过DEMO电路测试验证,系统可正确实现扫描链完备性测试、核功能内测试及核互连测试,表明系统工作稳定,通用性强。
陈寿宏颜学龙陈凯
关键词:IEEESOC测试系统
边界扫描测试生成与故障诊断的研究与实现被引量:7
2015年
随着电子技术的日益发展,电子电路系统的集成度和复杂性越来越高,边界扫描技术应用越来越广泛。在研究边界扫描基本结构和测试原理的基础上,给出互连测试矢量生成与故障诊断算法,对互连测试矢量生成和故障诊断进行研究与实现。使用VS2008软件作为平台开发边界扫描测试系统,采用走步1算法和改良计数算法进行矢量的生成,并根据W步自适应算法进行故障诊断。结果表明,系统自动生成的测试矢量测试时间短,效果好,故障诊断能力强,诊断部分能够消除征兆混淆和征兆误判现象,对设置的故障能够精确地定位和隔离。
韦翠荣颜学龙尚玉玲
关键词:测试矢量互连测试故障诊断测试系统
编译器技术在边界扫描中的应用研究被引量:1
2014年
根据研究对象BSDL文件以及Protel网表文件自身结构特点,运用flex与bison实现词法分析、语法分析及信息储存等阶段,构成一种优秀编译器,对目标文件进行全面、快速、准确地解析;预编译阶段采用正则表达式,将目标文件的信息提取、划分,存入逻辑关系清晰具有层次属性的关系型数据库,节省再次编译时间,有效提高应用效率;测试结果表明,该编译器不但可以准确、全面、快速提取编译信息,而且具有设计简单精巧、容易维护、功能强大等优点。
李泱颜学龙陈寿宏
关键词:FLEXBISON
基于边界扫描的SRAM测试技术的研究与实现被引量:4
2013年
静态随机存储器(SRAM)应用广泛,必须充分测试以保证其高可靠性;应用边界扫描的虚拟探针技术实现SRAM测试,分析SRAM功能结构并建立测试模型;以HY6264SRAM存储器为被测对象进行DEMO板可测性设计,应用TCL语言描述其测试信息;实验证明,该方法可完成对SRAM外围线(包括控制线、数据线和地址线)和存储单元的测试与故障诊断,结果正确且诊断定位具体,具有较好的应用前景。
陈寿宏颜学龙黄新
关键词:边界扫描测试故障诊断TCL语言
基于边界扫描技术和TCL语言的簇测试设计
2014年
在边界扫描测试技术中,由BS器件和非BS器件主成的逻辑簇测试是研究的难点问题,文章介绍了高效、简明、移植性好的TCL语言.在深入研究边界扫描簇测试原理的基础上,以实现逻辑簇测试为目的,采用了TCL嵌入C++的方法实现测试用例的脚本化,完成了基于TCL语言的Cluster测试脚本设计;通过对数字电路实验板的测试结果分析,得到了使用TCL脚本语言与C++联合编程能够实现簇测试,并且可以提高边界扫描测试软件工作效率的结论,具有较好的应用前景。
胡晓谈恩民陈寿宏尚玉玲
关键词:边界扫描测试
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