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国家自然科学基金(61171038)

作品数:2 被引量:5H指数:1
相关作者:董树荣周剑何兴理金浩王德苗更多>>
相关机构:浙江大学教育部更多>>
发文基金:国家自然科学基金中央高校基本科研业务费专项资金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇氧化物半导体
  • 1篇氧化锌
  • 1篇声表面波
  • 1篇声表面波器件
  • 1篇微机电系统
  • 1篇金属氧化物半...
  • 1篇静电放电
  • 1篇机电系统
  • 1篇横向扩散金属...
  • 1篇半导体
  • 1篇SPUTTE...
  • 1篇TCO
  • 1篇UCT
  • 1篇
  • 1篇AZO
  • 1篇LDMOS器...
  • 1篇MEMS
  • 1篇穿通
  • 1篇OLEDS
  • 1篇AL-DOP...

机构

  • 2篇浙江大学
  • 1篇教育部

作者

  • 2篇董树荣
  • 1篇王德苗
  • 1篇毕秀文
  • 1篇黄龙
  • 1篇金浩
  • 1篇何兴理
  • 1篇梁海莲
  • 1篇周剑
  • 1篇顾晓峰
  • 1篇曹华锋

传媒

  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇压电与声光

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 1篇2012
2 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
Effect of film thickness on properties of Al-doped ZnO film as transparent conducting electrodes in OLEDs
Al-doped ZnO(AZO)thin film is a promising alternative to an ITO electrode in organic light-emitting diodes app...
Yua n-dong LiDe-miao WangHao JinJing-ping LuJian Zhou
关键词:SPUTTERINGAZOTCO
LDMOS器件软失效分析及优化设计被引量:1
2014年
横向扩散金属氧化物半导体(LDMOS)器件在高压静电放电(ESD)防护过程中易因软失效而降低ESD鲁棒性。基于0.25μm Bipolar-CMOS-DMOS工艺分析了LDMOS器件发生软失效的物理机理,并提出了增强ESD鲁棒性的版图优化方法。首先制备了含N型轻掺杂漏版图的LDMOS器件,传输线脉冲(TLP)测试表明,器件在ESD应力下触发后一旦回滞即发生软失效,漏电流从2.19×10-9 A缓慢增至7.70×10-8 A。接着,对LDMOS器件内部电流密度、空间电荷及电场的分布进行了仿真,通过对比发现电场诱导的体穿通是引起软失效及漏电流增大的主要原因。最后,用深注入的N阱替代N型轻掺杂漏版图制备了LDMOS器件,TLP测试和仿真结果均表明,抑制的体穿通能有效削弱软失效,使其适用于高压功率集成电路的ESD防护。
黄龙梁海莲毕秀文顾晓峰曹华锋董树荣
关键词:横向扩散金属氧化物半导体静电放电
基于ZnO/Si结构的声表面波器件设计研究被引量:4
2013年
微机电系统(MEMS)工艺已被广泛用于制造各种硅基薄膜器件。声表面波(SAW)器件是性能优良的MEMS器件。该文利用多物理耦合场软件COMSOL Multiphysics仿真了氧化锌/硅(ZnO/Si)结构SAW谐振器,并得到其S11参数。对应于仿真,该文制造了该种结构的SAW器件。实验所用的ZnO通过射频磁控溅射制备,所制备的ZnO具有良好的(002)取向。实验测得的ZnO/Si结构SAW器件的中心频率为111.6MHz,与仿真结构接近。
何兴理周剑金浩董树荣王德苗
关键词:声表面波氧化锌
共1页<1>
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