您的位置: 专家智库 > >

国家自然科学基金(60877020)

作品数:5 被引量:8H指数:2
相关作者:杜国同马艳高福斌王辉王辉更多>>
相关机构:吉林大学大连理工大学河南科技大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金中国博士后科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信理学自动化与计算机技术一般工业技术更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 3篇ZNO薄膜
  • 2篇电子能
  • 2篇电子能谱
  • 2篇金属有机化学...
  • 2篇化学气相
  • 2篇化学气相沉积
  • 2篇光电子能谱
  • 1篇单晶
  • 1篇单晶薄膜
  • 1篇氮化铟
  • 1篇氧化锌
  • 1篇氧化锌薄膜
  • 1篇特性分析
  • 1篇透过率
  • 1篇系统开发
  • 1篇金属有机物
  • 1篇金属有机物化...
  • 1篇环境监测
  • 1篇分子束
  • 1篇分子束外延

机构

  • 5篇吉林大学
  • 3篇大连理工大学
  • 1篇河南科技大学

作者

  • 3篇马艳
  • 3篇杜国同
  • 2篇高福斌
  • 1篇夏晓川
  • 1篇张源涛
  • 1篇沈春生
  • 1篇赵洋
  • 1篇王瑾
  • 1篇殷景志
  • 1篇王富昕
  • 1篇赵龙
  • 1篇张宝林
  • 1篇史志锋
  • 1篇吴国光
  • 1篇李万程
  • 1篇董鑫
  • 1篇许佳婧
  • 1篇赵旺
  • 1篇刘阳
  • 1篇王辉

传媒

  • 1篇高等学校化学...
  • 1篇半导体技术
  • 1篇仪表技术与传...
  • 1篇Chines...
  • 1篇吉林大学学报...

年份

  • 2篇2012
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2008
5 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
Properties of p-NiO/n-GaN Diodes Fabricated by Magnetron Sputtering
2012年
The p-NiO thin film is prepared by radio frequency magnetron sputtering on the n-GaN/sapphire substrate to form p-NiO/n-GaN heterojunction diodes.The structural,optical and electrical properties of the p-NiO thin film are investigated.The results indicate that the NiO film has good crystal qualities and stable p-type conductivities.The current-voltage measurement of the p-NiO/n-GaN diode exhibits typical rectifying behaviour with a turn-on voltage of about 2.2 V.Under forward bias,a prominent ultraviolet emission centered at 375 nm is observed at room temperature.Furthermore,the mechanism of the light emission is discussed in terms of the band diagrams of the heterojunction in detail.
王辉张宝林吴国光武超史志锋赵洋王瑾马艳杜国同董鑫
关键词:HETEROJUNCTIONSAPPHIRE
NH3掺杂ZnO薄膜的生长及特性
2009年
采用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法,以NH3作为N元素的掺杂源,在蓝宝石衬底上生长了掺N的ZnO薄膜。利用X射线衍射、X射线光电子能谱、原子力显微镜、霍尔测量及光致荧光光谱等测试技术分析了薄膜的结晶性质、表面形貌、光电性质及掺杂元素N的价键特性。结果表明,NH3的掺杂会影响ZnO薄膜的结晶特性,薄膜虽然仍是(002)面择优取向生长,但同时也出现了ZnO的(100)及(101)面生长。在薄膜生长时N元素掺入到ZnO薄膜当中,并形成N—Zn、N—H、N—C键。C、H杂质的存在,使掺N ZnO薄膜表现为高阻,同时也影响了薄膜的光致发光特性。
马艳张宝林高福斌张源涛杜国同
关键词:氧化锌薄膜金属有机物化学气相沉积
金属有机化学气相沉积法制备ZnO和ZnO:Ni薄膜及其特性分析被引量:4
2011年
采用金属有机化学气相沉积法制备了ZnO和ZnO∶Ni薄膜,并对它们的结构、光学和电学特性进行了对比研究.通过扫描电子显微镜(SEM)和X射线衍射(XRD)对薄膜的表面形貌和晶体结构进行了分析,结果表明,Ni元素的掺杂虽然降低了薄膜的晶体质量,但并未改变ZnO的纤锌矿结构.通过紫外-可见分光光度计对薄膜的光学特性进行了测试与分析,结果表明,ZnO∶Ni薄膜在可见光区的平均透过率可达90%,优于ZnO薄膜在可见光区的平均透过率(85%).霍尔(Hall)测试显示ZnO∶Ni薄膜的导电类型仍为n型,但其电阻率已经明显增加,载流子浓度也远低于未掺杂ZnO薄膜的载流子浓度,说明Ni元素的掺杂对ZnO薄膜的特性产生了很大影响.
王辉王辉王瑾赵洋赵龙赵旺史志锋夏晓川马艳杜国同
关键词:ZNO薄膜金属有机化学气相沉积透过率
新型绿色、智能机房环境监测系统开发被引量:4
2010年
为了实现机房运维的流程改善、节能减排,达到绿色智能的目的,设计了一套机房环境监测系统。其中PDU(机柜内电源分配单元)的使用解决了数据机房内终端供电无法监测的难题,为进一步深度挖掘数据提供了硬件支持,PUE(电源利用率)智能分析为机房的运维人员提供了准确、智能的机房电力分配信息,为合理调配电力资源提供了保障。文中详细介绍了机房环境监测系统的结构、工作原理、系统优势。具体应用表明,该系统已全面实现了各项功能。
刘阳殷景志许佳婧王富昕
关键词:PDU
MOCVD方法生长ZnO薄膜的XPS分析
在不同温度下利用MOCVD方法生长了ZnO薄膜,并在较高温度下进行了NH3掺杂。采用X射线光电子能谱(XPS)技术分析了薄膜的性质,结果表明,生长温度和N掺杂会影响薄膜的表面吸附、O缺陷、C、H杂质、元素价态、化学键的断...
马艳张源涛张宝林杜国同
关键词:氧化锌金属有机化学气相沉积X射线光电子能谱
文献传递
6H-SiC衬底上InN单晶薄膜的RF-MBE生长
2012年
采用射频等离子体辅助分子束外延(RF-MBE)方法在6H-SiC衬底上制备纤锌矿结构的氮化铟(InN)薄膜.利用原位X射线光电子能谱测试确定了InN的修正俄歇参数α′=852.76eV和Wagner图,InN的铟氮质量比为1.19;扫描电子显微镜和原子力显微镜测试表明,外延InN为网状结构,表面无铟滴;X射线衍射测试表明,薄膜为单一c轴择优取向生长,其摇摆曲线半高宽为32.6弧分;室温光致发光峰中心位于1 575nm处.
沈春生吴国光高福斌马艳杜国同李万程
关键词:分子束外延氮化铟光电子能谱
共1页<1>
聚类工具0