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国家教育部博士点基金(20040610024)

作品数:14 被引量:23H指数:3
相关作者:赵北君朱世富何知宇陈宝军万书权更多>>
相关机构:四川大学更多>>
发文基金:国家教育部博士点基金国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
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文献类型

  • 14篇期刊文章
  • 5篇会议论文

领域

  • 19篇理学

主题

  • 12篇晶体
  • 7篇单晶
  • 7篇
  • 7篇
  • 7篇X
  • 6篇
  • 4篇热分析
  • 4篇红外透过率
  • 3篇单晶体
  • 3篇
  • 3篇差热分析
  • 2篇单晶生长
  • 2篇退火
  • 2篇退火处理
  • 2篇金相
  • 2篇金相显微镜
  • 2篇晶体退火
  • 2篇光学
  • 2篇分凝系数
  • 2篇改性

机构

  • 18篇四川大学

作者

  • 18篇朱世富
  • 18篇赵北君
  • 15篇陈宝军
  • 12篇何知宇
  • 12篇万书权
  • 7篇赵国栋
  • 5篇朱伟林
  • 5篇徐承福
  • 5篇龙勇
  • 5篇黄毅
  • 5篇王莹
  • 4篇许建华
  • 4篇马杰华
  • 4篇杨帆
  • 1篇赵玲
  • 1篇刘娟
  • 1篇黎明
  • 1篇张建军
  • 1篇吴莉姝
  • 1篇王文阳

传媒

  • 7篇人工晶体学报
  • 2篇四川大学学报...
  • 2篇四川大学学报...
  • 2篇新疆大学学报...
  • 1篇Journa...
  • 1篇第14届全国...
  • 1篇第15届全国...

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2012
  • 2篇2011
  • 2篇2010
  • 5篇2009
  • 3篇2008
  • 1篇2007
  • 3篇2006
  • 1篇2005
14 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
AgGa_(1-x)In_xSe_2晶体热处理研究被引量:2
2011年
结合差示扫描量热曲线(DSC)和相图确定出热处理的温度范围。分别在真空和AgGa1-xInxSe2(x=0.2,0.6,0.8)多晶粉末包埋下,对AgGa0.4In0.6Se2晶体进行了热处理实验,分析了热处理对晶体性能的影响。结果表明:用x=0.6和0.8的多晶粉末包埋,在680℃下保温120 h后再淬火处理的晶片,其红外透过率在550~5500 cm-1波数范围内整体提高到65%以上,光学质量显著提高;EDX和XRD分析表明,采用AgGa0.2In0.8Se2多晶粉末包埋,能够补充晶片中的In缺失,成分更接近AgGa0.4In0.6Se2化学计量比,同时晶片结晶质量也得到明显改善。
许建华赵北君朱世富陈宝军何知宇万书权
关键词:红外透过率热分析
AgGa_(0.6)In_(0.4)Se_2晶体的制备与表征
2011年
以高纯单质为原料,按AgGa1-xInxSe2(x=0.4)化学计量配比配料(富1%Se),在双层石英安瓿中,用机械和温度振荡相结合的方法,合成出高纯单相多晶料。差热分析表明,其熔点和凝固点分别为804.3℃和775.6℃。采用带有籽晶袋、内壁镀碳的双层石英安瓿,用改进的垂直布里奇曼法生长出尺寸为Φ20 mm×60 mm、结构完整的AgGa0.6In0.4Se2单晶体。经X射线衍射仪和红外分光光度计等分析表明,晶体为黄铜矿结构,晶格常数为a=0.602 32 nm,c=1.118 33 nm,其显露面和易解理面为(112)面;厚度约为2 mm的晶片在波长0.836~19.65μm范围内透过率接近或超过60%,禁带宽度约为1.48 eV。结果表明,改进方法生长的AgGa1-xInxSe2晶体的结构完整,光学质量高,可用于中远红外非线性光学器件制备。
万书权朱世富赵北君陈宝军何知宇许建华刘勇
关键词:单晶性能表征光学材料
AgGa1-xInxSe2晶体器件的定向加工
AgGa1-xInxSe2晶体是一种性能优异的中远红外非线性光学晶体,黄铜矿结构,42m点群。AgGa1-xInxSe2晶体非线性系数大,随X的不同,非线性光学系数d36在392.4pm/V之间变化。AgGa1-xInx...
龙勇赵北君朱世富何知宇陈宝军万书权王莹
文献传递
AgGa_(1-x)In_xSe_2晶体退火改性研究被引量:1
2008年
采用改进布里奇曼法生长出外观完整的AgGa1-xInxSe2(x=0.2)单晶锭,晶体的红外透过率低,不能直接用于红外非线性光学器件制备。采用TA公司生产的SDTQ-600热分析仪进行DSC-TGA测试,发现其熔点为826.69℃,结晶点为750.86℃,总失重约为3.9217%。采用同成份粉末源包裹晶体,在抽空封结后进行退火处理。退火处理后晶体的红外透过率有明显改善。在4000 cm^-1~7000 cm^-1范围内红外透过率由原先低于25%改进到高于40%;在750 cm^-1~4000 cm^-1范围的红外透过率由原先低于45%改善到超过50%,在2000 cm^-1~750 cm^-1区域甚至高达60%。结果表明:采用同成分粉末源包裹,在抽空封结后退火处理能有效提高AgGa1-xInxSe2晶体的红外透过率,改善晶体的光学均匀性,退火后的晶体适合红外非线性光学器件制备。
万书权朱世富赵北君黄毅朱伟林徐承福何知宇陈宝军赵国栋
关键词:退火处理差热分析红外透过率
硒铟镓银晶体中二相沉淀物研究被引量:1
2013年
应用金相显微镜、能量色散谱仪、X射线衍射仪等对AgGa0.8In0.2Se2晶体中的二相沉淀物进行了观察、测试和分析,发现呈梭状的二相沉淀物存在明显Ag含量缺失。根据EDS测试结果和差热实验数据研究了消除该二相沉淀物的热处理方案,即在含有Ag2Se组分的AgGa0.8In0.2Se2多晶混合粉末包埋下,对AgGa0.8In0.2Se2晶体进行淬火处理。结果表明:用含有1.26wt%Ag2Se的同成分多晶混合粉末包埋,在720℃下保温120 h后经淬火处理的晶片,梭状二相沉淀物得到很好的消除,红外透过率得到显著提高。
赵玲赵北君朱世富陈宝军何知宇许建华吴莉姝沙铭雨王文阳
关键词:红外透过率X射线衍射分析
AgGa_(1-x)In_xSe_2晶体的蚀坑研究
2009年
晶体的质量是其元器件制备的关键之一,蚀坑密度(EPD)的观测是检验晶体质量的一个重要方法.用改进的Bridgman法生长出AgGa1-xInxSe2(x=0.2)单晶,通过化学腐蚀和金相显微镜研究了(101)晶面蚀坑的形貌、分布特征及其密度的大小.结果表明:采用HNO3:HCl=1:2.5的配方,在室温下腐蚀5min,获得了较好的梯形蚀坑.发现晶体的缺陷主要是位错,并初步讨论了蚀坑的成因及其克服的措施,为高质量晶体元件的制备奠定了基础.
马杰华朱世富赵北君赵国栋杨帆陈宝军何知宇
关键词:金相显微镜
硒铟镓银单晶生长过程中In分凝现象研究
采用Bridgman法生长出尺寸为Φ15mm×45mm外表无裂纹的AgGa1-xInxSe2单晶体,XRD测试表明其峰值尖锐无杂峰。沿晶体生长方向分别于籽晶带、放肩、主体部位取三块不同位置的单晶片做EDX测试,发现其中I...
杨帆赵北君朱世富赵国栋马杰华万书权陈宝军何知宇
关键词:单晶体分凝系数
文献传递
中远红外非线性光学晶体AgGaS_2、AgGaSe_2和AgGa_(1-x)In_xSe_2研究进展被引量:8
2012年
综合报道了本实验室关于黄铜矿类I-III-VI2型系列晶体的研究进展。采用两温区气相输运温度振荡法合成出高纯、单相、致密的多晶材料,在三温区立式炉中用坩埚旋转下降法生长出AgGaS2、AgGaSe2和AgGa1-xInxSe2等系列单晶体,X射线单晶衍射谱和回摆谱表明晶体的结晶性好,结构完整;红外透过率接近理论值,吸收系数低于0.017 cm-1,表明生长的晶体光学质量高。研究出一种新的能对AgGa1-xInxSe2晶体(112)晶面进行择优腐蚀的腐蚀剂:(30 g CrO3+10 mL H2O)∶H4PO4(85%)∶HNO3(65~68%)∶HF(40%)=10∶10∶10∶2(体积比),在60℃下腐蚀40 min,能够清晰地显示出AgGa1-xInxSe2晶体(112)面取向一致的三角形腐蚀坑,边界清晰,蚀坑密度大约为105/cm2数量级。采用自行研制的晶体定向切割新方法,加工出AgGa1-xInxSe2-OPO器件,获得了3~5μm的激光输出,光-光转换效率达21%。
赵北君朱世富何知宇陈宝军
关键词:AGGAS2多晶合成单晶生长OPO
AgGa_(1-x)In_xSe_2晶体的定向加工被引量:3
2010年
报道了一种AgGa1-xInxSe2晶体定向加工的新方法,即根据AgGa1-xInxSe2晶体自身解理面,结合晶体标准极图和X射线衍射仪,快速寻找AgGa1-xInxSe2晶体通光面并进行回摆精修的器件加工新方法。运用该方法,针对改进垂直Bridgman法自发成核生长的AgGa1-xInxSe2(x=0.2)晶体,经定向切割、研磨和抛光,初步加工出AgGa1-xInxSe2(x=0.2)晶体光参量振荡(OPO)器件,其相位匹配角θm=54.71°、方位角φ=45°,元件尺寸达8mm×8mm×18mm。新方法不仅定向准确、操作简便,而且可以应用于不同In含量的系列AgGa1-xInxSe2晶体定向加工。
龙勇赵北君朱世富何知宇陈宝军万书权王莹许建华
关键词:X射线衍射分析
硒铟镓银单晶生长过程中In分凝现象研究
2009年
采用Bridgman法生长出尺寸为φ15mm×45mm外表无裂纹的AgGa(1-x)InxSe2单晶体,XRD测试表明其峰值尖锐无杂峰.沿晶体生长方向分别于籽晶带、放肩、主体部位取三块不同位置的单晶片做EDX测试,发现其中In含量与理论值不同,随晶体生长过程呈现递增趋势,分析表明是In的分凝结果所形成的.由上述部位XRD多晶粉末结构分析计算出的晶胞常数变化规律亦呈现递增趋势,与EDX实验结果一致.
杨帆赵北君朱世富赵国栋马杰华万书权陈宝军何知宇
关键词:单晶体分凝系数
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