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国家高技术研究发展计划(2003AA121630)

作品数：2 被引量：6H指数：2
相关作者：马佩军宋国乡郝跃孙晓丽荆明娥更多>>
相关机构：西安电子科技大学复旦大学更多>>
发文基金：国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇设计方法
  • 1篇小波
  • 1篇小波变换
  • 1篇基于小波变换
  • 1篇集成电路
  • 1篇分形
  • 1篇分形维
  • 1篇RSM
  • 1篇IC
  • 1篇波变换
  • 1篇参数成品率
  • 1篇成品率

机构

  • 2篇西安电子科技...
  • 1篇复旦大学

作者

  • 1篇周电
  • 1篇马晓华
  • 1篇荆明娥
  • 1篇孙晓丽
  • 1篇郝跃
  • 1篇宋国乡
  • 1篇马佩军

传媒

  • 1篇电路与系统学...
  • 1篇现代电子技术

年份

  • 1篇2006
  • 1篇2005
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
基于小波变换的IC缺陷轮廓曲线分形维估计被引量：3
2006年
硅片表面缺陷轮廓的形状特征对集成电路(IC)成品率预报及故障分析有重要影响。讨论了IC缺陷轮廓所具有的分形特征,利用小波变换对其参数曲线的分形维数进行了估计,估计结果与实际特征相符,从而为缺陷轮廓特征的描述和计算机模拟提供了一条新的途径。
孙晓丽宋国乡
关键词：小波变换集成电路
基于RSM和均匀试验的IC成品率设计方法被引量：3
2005年
本文给出了一种基于均匀试验设计的响应表面模型,同时得到该模型在VLSI集成电路参数成品率中的优化方法。本方法首先对电路的关键参数进行扫描,确定满足电路基本性能时的参数变化范围。在此范围内,可对电路参数进行以数论方法为基础的均匀试验设计和建立响应表面。对拟合得到的响应表面模型进行CV拟合检验,求出最佳的电路设计值。本方法适用于集成电路的工艺、器件和电路级的模拟。
荆明娥周电马晓华马佩军郝跃
关键词：参数成品率
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共1页<1>
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