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国家高技术研究发展计划(7150010162)

作品数:2 被引量:5H指数:1
相关作者:李庚伟吴正龙邵素珍刘志凯更多>>
相关机构:北京市第四十七中学北京师范大学中国科学院更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇理学

主题

  • 2篇电子能
  • 2篇电子能谱
  • 2篇淀积
  • 2篇离子束
  • 2篇离子束辅助
  • 2篇激光
  • 2篇激光淀积
  • 2篇光电子能谱
  • 2篇PLD
  • 2篇XPS
  • 2篇X射线
  • 2篇X射线光电子...
  • 1篇氧离子
  • 1篇离子
  • 1篇

机构

  • 2篇北京师范大学
  • 2篇中国地质大学...
  • 2篇中国科学院
  • 2篇北京市第四十...

作者

  • 2篇刘志凯
  • 2篇邵素珍
  • 2篇吴正龙
  • 2篇李庚伟

传媒

  • 2篇材料科学与工...

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
氧离子束辅助激光淀积生长ZnO/Si薄膜深度剖析被引量:1
2007年
对于在Si(111)上用氧离子束辅助(O+-assisted)脉冲激光淀积(PLD)生长的ZnO薄膜,用X射线光电子能谱(XPS)深度剖析方法对长成的样品进行了异位测试,分析了导致各峰峰位能移的因素;通过异位与原位XPS谱图的比较,指出O+-assistedPLD法生成的ZnO薄膜中存在孔隙;指出生长出的ZnO薄膜中含Si成分的厚度不超过18nm;同时探讨了在长成的ZnO/Si上继续生长GaN薄膜的可行性.
李庚伟吴正龙邵素珍刘志凯
氧离子束辅助激光淀积生长ZnO/Si的XPS探究被引量:4
2008年
为了探究ZnO/Si内部化学成分及有关信息,用氧离子束辅助(O+-assisted)脉冲激光淀积(PLD)法在不同实验条件下生长成ZnO/Si(111)样品.利用X射线光电子能谱(XPS)对长成的ZnO/Si异质结构进行了异位测试.通过对O1s峰及其肩状结构进行拟合、分析,得到了原子数密度比n(O)∶n(Zn),进而探究了原子数密度比与生长质量的关系.结果表明,用氧离子束辅助PLD法,可在较低的衬底温度190℃和适当O+束流条件下,生长出正化学比接近于1,且c轴单一取向最佳的ZnO/Si薄膜.用氧离子束辅助PLD淀积法生长ZnO薄膜,可以改善缺氧状况,能提供一个富氧环境.
李庚伟吴正龙邵素珍刘志凯
共1页<1>
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