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纳米级低开销SEU免疫型XC Domino动态门: 2013年; 在纳米级工艺条件下,高速运算单元核心部件XC Domino动态门面临严重的软错误问题.本文提出一种适用SEU类软错误容错设计的免疫型XC Domino动态门,此免疫型动态门借鉴了锁存器单元稳定结构,对于动态门的输出端实施P-type扩散区隔离以完成SEU的防护.通过Spectre电路仿真,验证了SEU免疫型动态门能够实现对于高达2倍Vdd振幅电压脉冲干扰的SEU类软错误容错;另外,与传统XC Domino动态门容错设计方案相比,免疫型动态门能够降低13.64%的门延时,并能在减少47.37%面积开销的同时降低75.54%功耗开销.; 张金艺唐夏周荣俊李娟娟张秉煜; 关键词：单粒子翻转容错设计软错误

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上海市科委国际合作基金(08700741000)