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陕西省自然科学基金(08SJF02)

作品数:2 被引量:2H指数:1
相关作者:王党辉辛明瑞更多>>
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相关领域:自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 2篇单粒子
  • 2篇单粒子效应
  • 2篇微处理器
  • 2篇芯片
  • 2篇抗辐射
  • 2篇可靠性
  • 2篇处理器
  • 1篇微处理器芯片
  • 1篇SEU
  • 1篇处理器芯片

机构

  • 2篇西北工业大学

作者

  • 2篇王党辉
  • 1篇辛明瑞

传媒

  • 2篇西北工业大学...

年份

  • 2篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种直接纠错的流水线设计被引量:2
2010年
单粒子效应是星载计算机工作异常和故障的重要诱因之一,国内外已有多颗卫星遭受了单粒子效应的危害,造成巨大的经济损失。文章首先论述了Longtium-FT1容错处理器的流水线结构,分析了单粒子效应对流水线处理器的影响;然后提出了一种直接纠错的流水线结构,其中寄存器文件采用检错纠错编码技术,流水线寄存器采用多模冗余技术。实验结果显示,采用直接纠错流水线技术的Longtium-FT1容错处理器抗辐射总剂量能力可达到300 krad(Si),能够满足卫星用微处理器的抗辐射指标要求。
王党辉辛明瑞
关键词:微处理器芯片可靠性抗辐射单粒子效应
一种针对SEU的同步纠错流水线设计被引量:1
2010年
单粒子效应是星载计算机工作异常和发生故障的重要诱因之一,国内外多颗卫星曾遭受了单粒子效应的危害,造成巨大的经济损失。文章提出了一种同步纠错的流水线结构,对错误的检测与纠正进行了任务分解;当存在可纠正错误时,将纠正后的数据写入寄存器堆之后重启流水线。采用直接纠错流水线技术的Longtium-FT2容错处理器的抗辐射总剂量能力在采用普通商用加工工艺实现时达到了30 krad(Si)。
王党辉辛明瑞
关键词:微处理器芯片可靠性抗辐射单粒子效应
共1页<1>
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