国家自然科学基金(61271153)
- 作品数：29 被引量：84H指数：5
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- 一种新的SRAM型胚胎电子细胞SEU自检结构
- SRAM型胚胎电子细胞在辐射空间容易受到单粒子翻转(SEU,Single Event Upset)影响,由于缺乏有效的自检手段,严重制约了胚胎电子阵列在深空、强电磁等辐射环境中的应用。本文基于经典胚胎电子细胞结构,在配置...
- 李丹阳蔡金燕朱赛孟亚峰
- 关键词：SRAM单粒子翻转
- 文献传递
- 基于随机冲击的相关竞争失效可靠性评估被引量：2
- 2015年
- 针对电子产品在工程实践中受随机冲击应力的影响及多失效模式的问题,以累积冲击和极限冲击来描述产品的冲击过程,考虑失效模式相关性并建立了随机冲击下产品竞争失效模型。以具有自然耗损和突发耗损特点金属化膜脉冲电容器为对象,进行了可靠性对比分析,验证了模型的合理性和有效性,为遭受复合应力影响的电子产品的可靠性评估提供了一种新方法。
- 孙志旺梁玉英潘刚张国龙
- 关键词：金属化膜脉冲电容器可靠性评估
- 动态环境应力下产品可靠性评估方法研究被引量：2
- 2014年
- 针对目前可靠性评估方法中忽略了产品工作环境与试验环境之间存在差异性的缺点,给出了两种考虑动态环境应力水平下产品可靠性分析的思路,即将动态应力转换为静态应力来分析和通过等效加速因子建立恒定应力加速试验与动态环境应力下的关系。在已知产品物理加速模型的情况下,提出了通过加速因子模型将动态环境应力转换为静态等效应力的求解方法。在已知产品环境应力分布函数的情况下,给出了动态环境下等效加速因子的求解方法,最后引入校正因子来修正基于加速试验得到的加速因子,最后通过实例说明了文中方法的有效性。
- 张国龙蔡金燕吕萌潘刚
- 关键词：变化环境
- 双应力交叉步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真被引量：5
- 2013年
- 为进一步缩短试验时间,实现产品可靠性的快速评定,在综合应力加速寿命试验优化方案设计的基础上,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的双应力交叉步降加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计为目标函数,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的双应力交叉步降加速寿命试验优化设计模型。最后通过三次样条插值拟合理论对目标函数进行拟合,降低了仿真规模,提高了试验效率,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。
- 吕萌蔡金燕潘刚张国龙李伟
- 关键词：加速寿命试验优化设计
- 退化和冲击共同作用下电容器可靠性评估方法
- 2014年
- 针对一些产品受退化与随机冲击共同作用的特点,提出了一种Wiener退化过程与Poisson冲击联合建模的可靠性分析方法,利用马尔科夫蒙特卡洛仿真的方法对模型参数进行估计,并以金属化膜电容器为实例,对比分析验证了该模型的可行性,该模型可推广应用其他产品的试验分析,更加节省时间,费用更低。
- 孙志旺朱斌强张国龙杨勇
- 关键词：电容器可靠性评估
- 基于Copula函数的多性能参数雷达电路板可靠性评估被引量：3
- 2014年
- 如何快速准确地评估雷达装备的可靠性是目前研究的重要课题,"多参数、模型复杂、难计算"是其中的主要问题,为此,以某型雷达18V20k Hz信号板为对象,利用加速试验数据进行可靠性分析。通过对试验数据的分析,选择2个具有代表性的性能退化参数,利用Wiener过程描述其退化过程,考虑各参数之间的相关性,运用Copula函数建立了基于多性能参数的可靠性分析模型,采用了MCMC方法进行参数估计,解决模型过于复杂难以估计的问题。最后通过雷达电路板电冲击试验验证了该方法的有效性,同时也为多性能参数下雷达板级电路可靠性分析提供了技术支撑。
- 李伟梁玉英蔡金燕吕萌张国龙
- 关键词：可靠性评估COPULA函数
- 基于果蝇算法和灰色神经网络的电子装备故障预测方法研究被引量：2
- 2015年
- 针对电子装备故障数据小样本、非线性的特点,在相空间重构处理原始时间序列数据的基础上,基于k折交叉验证和果蝇算法优化灰色神经网络模型参数,从而提出一种基于果蝇算法和灰色神经网络的故障预测方法,并以某型雷达高压电源监测数据仿真结果为例验证其模型性能;实验结果表明,相比已有方法,该方法在全局优化、收敛速度、预测精度方面都具有一定优势。
- 吴坤康建设姜新亮
- 关键词：灰色神经网络电子装备故障预测
- 随机阈值冲击模型金属化膜脉冲电容器可靠性分析被引量：1
- 2014年
- 基于惯性约束聚变强激光装置中金属化膜脉冲电容器"自愈"的失效机理,提出了更为适合的冲击模型金属化膜脉冲电容器可靠性评估方法。现有的加速退化试验中,失效阈值往往是事先确定的,但考虑可靠性产品个体差异及环境影响的不同,这是不合理的,针对此问题提出了基于随机阈值的冲击模型金属化膜脉冲电容器退化建模的方法。由于模型过于复杂,采用MCMC方法进行参数估计。最后通过对电容器的仿真实验,将随机阈值下的评估结果与固定阈值的情况相对比,说明了该模型和方法的合理性,并进一步分析了不同的阈值分布均值和方差对产品可靠性的影响。
- 李伟梁玉英潘刚张国龙
- 关键词：复合POISSON过程金属化膜脉冲电容器
- 一种新的SRAM型胚胎电子细胞SEU自检结构
- SRAM型胚胎电子细胞在辐射空间容易受到单粒子翻转（SEU,Single Event Upset）影响,由于缺乏有效的自检手段,严重制约了胚胎电子阵列在深空、强电磁等辐射环境中的应用。本文基于经典胚胎电子细胞结构,在配置...
- 李丹阳蔡金燕朱赛孟亚峰
- 关键词：SRAM单粒子翻转
- 电应力加速退化试验技术及可靠性评估研究被引量：5
- 2014年
- 为探究电冲击对电子装备寿命的影响,选取电源通断瞬间产生的高压为电冲击加速应力,并以雷达某系统功能电路板为研究对象,开展电应力加速退化试验。通过对试验数据的统计分析,得到基于性能退化轨迹的伪失效寿命,并在Weibull分布条件下进行参数估计,提出基于电应力的电源开关通断电加速模型,并实现对某型雷达功能电路板的可靠性评估。
- 孙志旺梁玉英潘刚张国龙李伟
- 关键词：电冲击加速退化试验可靠性评估
