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国防科技重点实验室基金(51432030204DZ0101)

作品数:4 被引量:3H指数:1
相关作者:郝跃张进城高志远陈海峰倪金玉更多>>
相关机构:西安电子科技大学更多>>
发文基金:国家重点基础研究发展计划国防科技重点实验室基金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇理学

主题

  • 2篇ALGAN/...
  • 2篇ALGAN/...
  • 1篇电流崩塌
  • 1篇钝化
  • 1篇异质结
  • 1篇英文
  • 1篇原子力显微镜
  • 1篇扫描电镜
  • 1篇扫描电镜研究
  • 1篇外延层
  • 1篇微波
  • 1篇微波功率
  • 1篇位错
  • 1篇功率
  • 1篇ALGAN/...
  • 1篇GAN
  • 1篇GAN外延层
  • 1篇场板
  • 1篇场板结构

机构

  • 4篇西安电子科技...

作者

  • 4篇郝跃
  • 3篇张进城
  • 2篇马香柏
  • 2篇倪金玉
  • 2篇陈海峰
  • 2篇高志远
  • 1篇张进成
  • 1篇杨燕
  • 1篇郭亮良
  • 1篇冯倩
  • 1篇张金凤

传媒

  • 2篇Journa...
  • 1篇电子科技
  • 1篇物理学报

年份

  • 3篇2007
  • 1篇2006
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
AlGaN/GaN异质结载流子面密度测量的比较与分析被引量:2
2007年
对MOCVD技术在蓝宝石衬底上生长的不同Al组分AlGaN/GaN异质结进行了范德堡法Hall测量和电容-电压(C-V)测量,发现Hall测量载流子面密度值大于C-V测量值,并且随着AlGaN层Al组分的增加,两种测量值都在增加,同时它们的差值也在增加.认为产生这一结果的原因有两方面.一方面,Ni/Au肖特基金属淀积在AlGaN/GaN异质结上,改变了AlGaN势垒层的表面状态,使得一部分二维电子气(2DEG)电子被抽取到空的施主表面态中,从而减小了AlGaN/GaN异质结界面势阱中的2DEG浓度.随着势垒层Al组分的增加,AlGaN层产生了更多的表面态,从而使得更多的电子被抽取到了空的表面态中.另一方面,由于C-V测量本身精确度受到串联电阻的影响,使得测量电容小于实际电容,从而低估了载流子浓度.
倪金玉张进成郝跃杨燕陈海峰高志远
关键词:ALGAN/GAN异质结
钝化与场板结构对AlGaN/GaN HEMT电流崩塌的影响
2007年
由于AlGaN/GaNHEMT的几何结构以及很强的极化效应,柵漏区域的电场很大,以至于电子可以从柵隧穿到AlGaN表面.隧穿的电子在表面累积,导致柵下耗尽区的电子向漏端延伸,从而引起漏极电流的下降.文中采用应力测试方法,研究了未钝化、钝化以及场板三种结构的AlGaN/GaNHEMT的电流崩塌程度.实验结果表明,钝化隔断了电子从柵隧穿到AlGaN表面的通道,场板结构能够有效降低柵边缘电场,均减少了电子从柵隧穿到表面陷阱的几率,从而使虚柵的作用减弱,有效地抑制了电流崩塌效应.
马香柏张进城郭亮良冯倩郝跃
关键词:电流崩塌钝化场板结构
用原子力显微镜和扫描电镜研究GaN外延层中的位错腐蚀坑(英文)被引量:1
2007年
用原子力显微镜和扫描电镜相结合的方法表征了KOH腐蚀后的Si掺杂GaN外延层中的位错腐蚀坑.根据腐蚀坑的不同形状和在表面的特定位置可将其分成三种类型,它们的起源可由一个关于腐蚀机制的模型加以解释.纯螺位错易于沿着由它结束的表面阶梯被腐蚀,形成一个小的Ga极性面以阻止进一步的纵向腐蚀,因而其腐蚀坑是位于两个表面阶梯交结处的截底倒六棱椎.纯刃位错易于沿位错线被腐蚀,因而其腐蚀坑是沿着表面阶梯分布的尖底倒六棱椎.极性在GaN的腐蚀过程中起了重要作用.
高志远郝跃张进城张金凤陈海峰倪金玉
关键词:位错GAN
微波功率AlGaN/GaN HEMT的研究进展
2006年
文章论述了AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)在微波功率领域应用的优势,详细介绍了微波功率AlGaN/GaNHEMT的工艺进展以及器件的直流和频率特性,评述了其最新进展及今后发展方向。
马香柏郝跃张进城
关键词:ALGAN/GAN微波功率
共1页<1>
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