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中国博士后科学基金(20070411137)

作品数:4 被引量:8H指数:2
相关作者:林涛郑凯马骁宇陈治明李连碧更多>>
相关机构:西安理工大学中国科学院西北大学更多>>
发文基金:中国博士后科学基金国家教育部博士点基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇碳化硅
  • 2篇气相沉积
  • 2篇量子阱混杂
  • 2篇化学气相
  • 2篇化学气相沉积
  • 2篇激光
  • 2篇激光器
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体激光
  • 2篇半导体激光器
  • 1篇碳化硅衬底
  • 1篇透射电子显微...
  • 1篇蓝移
  • 1篇功率
  • 1篇光学
  • 1篇光学材料
  • 1篇硅衬底
  • 1篇ZN
  • 1篇
  • 1篇

机构

  • 4篇西安理工大学
  • 2篇中国科学院
  • 1篇西北大学

作者

  • 4篇林涛
  • 2篇李青民
  • 2篇李连碧
  • 2篇马骁宇
  • 2篇郑凯
  • 2篇陈治明
  • 1篇杨莺
  • 1篇蒲红斌
  • 1篇崇峰
  • 1篇李佳
  • 1篇段玉鹏

传媒

  • 1篇Journa...
  • 1篇物理学报
  • 1篇中国激光
  • 1篇光学学报

年份

  • 1篇2009
  • 3篇2008
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
6H碳化硅衬底上硅碳锗薄膜的生长特性研究
2008年
采用低压热壁化学气相沉积法,在6H-SiC衬底(0001)面上生长了不同温度(1100—1250℃),不同GeH4流量比(6.3%—25%)的SiCGe薄膜样品,研究了SiCGe薄膜的表面形貌、生长特性以及样品中Ge组分含量的变化.扫描电镜测试结果表明,SiCGe薄膜在低温下倾向于岛状生长模式,随着生长温度提高,岛状生长逐渐过渡到层状生长模式,同时伴有岛形状和密度的变化.X射线光电子能谱测试得出SiCGe样品中的Ge含量约为0.15%—0.62%,在其他参数不变的情况下,样品的Ge含量随GeH4流量比的增大而升高,随生长温度的降低而升高.此外还定性分析了样品中的反相边界(APB)缺陷.
林涛陈治明李佳李连碧李青民蒲红斌
关键词:碳化硅化学气相沉积
带非吸收窗口的大功率657nm半导体激光器被引量:5
2009年
在激光器腔面处制作非吸收窗口(NAW)可以有效地减少光吸收,防止激光器过早出现光学灾变损伤(COD),是提高大功率半导体激光器的功率特性的重要手段之一。采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术二次外延生长了大功率657nm红光半导体激光器结构,通过闭管扩散Zn的方法在腔面附近制作了非吸收窗口。实验发现扩散温度550℃,扩散时间20min时,得到的非吸收窗口最为有效,激光器连续工作的无扭折输出功率大于100mW,超过常规的无窗口结构激光器的最大输出功率的两倍,激光器的斜率效率提高了23%。测量该类器件的温度特性发现,环境温度为20~70℃时,其输出功率均可大于50mW,计算得到激光器的特征温度约为89K,波长增加率约为0.24nm/℃。
林涛段玉鹏郑凯崇峰马骁宇
关键词:激光器半导体激光器量子阱混杂
Zn杂质扩散诱导AlGaInP/GaInP量子阱混杂被引量:4
2008年
杂质扩散诱导量子阱混杂技术可用于制作腔面非吸收窗口,提高大功率半导体激光器的输出功率。以Zn3As2为扩散源,采用闭管扩散方式,在550℃下对650nm半导体激光器的外延片进行了一系列Zn杂质扩散诱导量子阱混杂的实验。实验发现,随着扩散时间从20~120min,样品光致发光(PL)谱蓝移偏移增加,峰值波长蓝移53nm;当扩散时间超过60min后,样品的PL谱中不仅出现了常见的蓝移峰,同时还出现了红移峰,峰值波长红移32nm。分析表明PL谱蓝移来自Zn扩散引起的AlGaInP/GaInP间的量子阱混杂;红移来自Zn杂质扩散对样品中Ga0.51In0.49P缓冲层的影响。还研究了扩散温度(550℃)和扩散时间对样品晶体品质的影响,并在理论上计算了AlGaInP/GaInP量子阱混杂中的Al-Ga的互扩散系数。
林涛郑凯马骁宇
关键词:光学材料半导体激光器量子阱混杂蓝移ALGAINP
6H-SiC衬底上异质外延3C-SiC薄膜的结构研究被引量:1
2008年
以SiH4和C3H8为反应源,在1250℃下,采用低压热壁化学气相淀积法在6H-SiC衬底上异质外延生长了3C-SiC薄膜.扫描电镜和原子力显微镜测试结果显示,样品表面光滑、无明显岛状结构物质.剖面透射电镜照片显示SiC外延层致密均匀、界面平整,厚度约为50nm.高分辨透射电镜结果显示,衬底与外延层分别为排列整齐的6H-SiC结构和3C-SiC结构,两者过渡平坦、界面处无其他晶型.选区电子衍射花样标定结果再次说明外延薄膜为闪锌矿结构的3C-SiC,计算的晶格常数为0·4362nm.
林涛李青民李连碧杨莺陈治明
关键词:碳化硅化学气相沉积透射电子显微镜
共1页<1>
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