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电热分析及其对测试的影响: 随着集成电路工艺进入纳米工艺时代,集成度与工作频率的增加,伴随性能提高的是不断增加的功耗与功耗密度,不仅拉低供电网络的供电电压,而且升高了内核温度,其直接后果是增加了电路时延,降低芯片的性能,所以在芯片设计中,必须对芯片...; 骆祖莹; 关键词：功耗温度芯片测试; 文献传递

CMOS电路晶体管级功耗优化方法被引量：2: 2008年; 随着集成电路工艺进入纳米时代,在集成电路设计约束重要性方面,功耗已成为与性能等量齐观的设计约束.由于缺少有效的晶体管级时延模拟器,所以现有的低功耗设计技术均为逻辑门级功耗优化方法.受惠于更低的优化颗粒度,晶体管级优化方法具有比逻辑门级方法更强的静态功耗优化能力,因此针对高静态功耗的纳米工艺芯片,开展晶体管级优化方法的研究具有非常重要的意义.基于晶体管级VLSI模拟器,提出了一种新的晶体管级优化方法用于进一步降低静态功耗,它由两个算法步骤构成:先用聚团策略(clustering)在逻辑门空间来提高优化算法的效率,再用粒度较小的晶体管空间优化算法来提高功耗的优化效果.实验证明所提方法具有以下优点:1)该方法适用范围较广,可以分析和优化各种电路.这些电路中,每个晶体管都可以有不同的阈值电压VT0、沟道宽度W和沟道长度L.2)该方法的功耗优化效果较好.在晶体管级W+VT0+L的功耗优化实验中,该方法在不降低动态功耗优化效果的前提(动态功耗平均仅增加0.02%)下,在合理的运行时间(优化C7552仅用856.4s)内,在晶体管级对逻辑门级优化结果进行进一步优化,使静态功耗得到进一步降低,平均降低22.85%,最大降低43%.; 骆祖莹潘月斗; 关键词：VLSI 低功耗设计

动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法被引量：2: 2010年; 为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切片相容时,提出了有选择的相容合并策略,以进一步提高压缩率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法具有更高的测试压缩率.; 刘军韩银和李晓维; 关键词：测试数据压缩压缩率

基于无线传感器网络的植被叶面积指数测量方法: 叶面积指数（leaf area index,LAI）,是估计植物冠层功能的重要参数,在农业遥感,植被保护,产量估测等方面有着重要的应用.长期以来,国内LAI测量大量依赖于进口手持式设备.由于测量范围较大,测量时间较长,常...; 吕芸帙杨旭骆祖莹; 关键词：叶面积指数无线传感器网络低功耗; 文献传递

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国家高技术研究发展计划(2007AA01Z109)