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安徽省人才开发基金(2004Z029)

作品数:35 被引量:125H指数:6
相关作者:孙兆奇宋学萍吕建国曹春斌蔡琪更多>>
相关机构:安徽大学合肥师范学院安徽农业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金安徽省人才开发基金国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:理学电子电信机械工程化学工程更多>>

文献类型

  • 35篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 33篇理学
  • 2篇机械工程
  • 2篇电子电信
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇化学工程

主题

  • 14篇微结构
  • 13篇溅射
  • 11篇磁控
  • 11篇磁控溅射
  • 9篇光学
  • 9篇分形
  • 8篇光学性
  • 7篇射频磁控
  • 7篇射频磁控溅射
  • 7篇多重分形谱
  • 6篇光谱
  • 5篇光学性质
  • 5篇TEM
  • 5篇表面形貌
  • 5篇ZNO薄膜
  • 4篇AU
  • 4篇ITO薄膜
  • 3篇应力
  • 3篇透射
  • 3篇膜厚

机构

  • 36篇安徽大学
  • 9篇合肥师范学院
  • 4篇安徽农业大学
  • 4篇安徽教育学院
  • 2篇滁州学院
  • 2篇教育部
  • 1篇贵州大学
  • 1篇安徽建筑工业...
  • 1篇上海交通大学

作者

  • 35篇孙兆奇
  • 32篇宋学萍
  • 18篇吕建国
  • 9篇曹春斌
  • 9篇蔡琪
  • 5篇江锡顺
  • 3篇戴结林
  • 3篇曹铃
  • 3篇王佩红
  • 2篇黄飞
  • 2篇高清维
  • 2篇周明飞
  • 2篇孟凡明
  • 2篇夏齐萍
  • 2篇汪小小
  • 2篇朱剑博
  • 1篇陈进军
  • 1篇孙仲亮
  • 1篇戴旭涵
  • 1篇赵小林

传媒

  • 6篇功能材料
  • 4篇安徽大学学报...
  • 3篇电子显微学报
  • 3篇真空科学与技...
  • 2篇合肥工业大学...
  • 2篇光学学报
  • 2篇人工晶体学报
  • 1篇硅酸盐通报
  • 1篇物理学报
  • 1篇安徽教育学院...
  • 1篇分析测试学报
  • 1篇稀有金属
  • 1篇大学物理
  • 1篇光谱学与光谱...
  • 1篇液晶与显示
  • 1篇真空电子技术
  • 1篇半导体光电
  • 1篇材料科学与工...
  • 1篇合肥师范学院...
  • 1篇中国科技论文...

年份

  • 2篇2011
  • 5篇2010
  • 4篇2009
  • 9篇2008
  • 8篇2007
  • 6篇2006
  • 2篇2005
35 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
Al掺杂ZnO薄膜的表面形貌和光学性质被引量:9
2009年
用原子力显微镜、紫外-可见分光光度计和荧光光谱仪观察采用溶胶-凝胶法制备的Al掺杂ZnO薄膜的表面形貌、透射光谱和光致发光谱。结果表明,Al掺杂量为0.5at%的ZnO薄膜经550℃退火处理后,粗糙度为1.817,Al掺杂量为1.0at%的ZnO薄膜经600℃退火处理后,粗糙度增大到4.625。样品在可见光范围内的平均透过率均大于80%。当激发波长为325 nm时,在397 nm(3.13 eV)附近出现紫外发光峰;当激发波长为360 nm时,在443 nm(2.80 eV)附近出现蓝色发光峰。探讨了样品的蓝光发光机制。
吕建国宋学萍孙兆奇
关键词:粗糙度光致发光透射光谱
氧化铟锡薄膜的椭偏光谱研究被引量:15
2008年
用溅射法在Si片上制备了厚度为140nm的氧化铟锡(ITO)薄膜。X射线衍射研究表明所制备的薄膜为多晶结构。在1.5~4.5eV范围内对ITO薄膜进行了椭偏测量。分别用德鲁德-洛伦茨谐振子(Drude4-Lorenzoscillators)模型、层进模型结合有效介质近似模型对椭偏参量ψ、△进行了拟合,得到ITO薄膜的折射指数n的变化范围在1.8~2.6之间,可见光范围内消光系数k接近于零,在350nm波长附近开始明显变化,且随着波长的减小k迅速增加。计算得到直接和间接光学带隙分别是3.8eV和4.2eV。并在1.5~4.5eV段给出一套较为可靠的、具有实用价值的ITO介电常量和光学常量。
孙兆奇曹春斌宋学萍蔡琪
关键词:薄膜光学ITO薄膜
Au-MgF_2复合纳米颗粒薄膜的多重分形研究
2005年
用透射电镜(TEM)测定了采用射频磁控共溅射法制备的金属体积分数在6.0%~62.6%之间的Au-MgF2复合纳米颗粒薄膜的形貌,用多重分形谱描述了不同体积分数薄膜中Au颗粒的空间分布均匀性及其尺寸分布.结果表明:随着Au体积分数的增大,多重分形谱的宽度Δα先增大后减小,说明薄膜中Au颗粒的空间分布不均匀性先增加后减小.当Au体积分数达到某一临界值(在26.5%至38.2%之间)时,Δf从小于零向大于零发生转变,此时薄膜中Au颗粒的尺寸分布,由较大程度上取决于体积最小Au颗粒,向较大程度上取决于体积最大Au颗粒过渡.
吕建国高清维孙兆奇
关键词:多重分形谱TEM体积分数
氧氩流量比对ZnO薄膜的微结构及其发光特性的影响被引量:2
2011年
在室温下,利用射频磁控反应溅射法分别在硅片和石英玻璃上制备ZnO薄膜。通过控制O2/Ar流量比,研究O2/Ar流量比对ZnO薄膜的微结构、表面形貌及其光致发光特性的影响。X射线衍射仪和原子力显微镜结果显示,当O2/Ar流量比为3∶4时,所得薄膜结晶度最佳,表面粗糙度为0.725 nm;荧光光谱显示,ZnO薄膜在波长407 nm附近出现紫光发光峰,该发光峰源于氧空位浅施主能级到价带顶的电子跃迁,发射强度随O2/Ar流量比的增加先减小后增加。
汪小小夏齐萍吕建国宋学萍孙兆奇
关键词:ZNO薄膜反应溅射光致发光
Al掺杂ZnO薄膜原子力显微图像的多重分形研究被引量:3
2008年
用原子力显微镜观察溶胶-凝胶法制备Al掺杂ZnO薄膜的表面形貌,运用多重分形理论研究Al掺杂ZnO薄膜的原子力显微图像,多重分形谱可以很好地定量表征薄膜的表面形貌。结果显示:Al掺杂量为0.5 at.%的ZnO薄膜经550℃退火处理后,rms粗糙度为1.817,Al掺杂量为1.0 at.%的ZnO薄膜经600℃退火处理后,rms粗糙度增大到4.625,相应的分形谱宽Δα从0.019增大到0.287,分形参数Δf由-0.075变为0.124。
吕建国宋学萍孙兆奇
关键词:表面形貌多重分形谱
射频磁控溅射ZnO薄膜的微结构与光学特性被引量:2
2008年
研究了膜厚对ZnO薄膜微结构和光学性能的影响。采用射频磁控溅射法在单晶硅(111)和玻璃基片上制备了不同厚度的ZnO薄膜。通过X射线衍射、原子力显微镜和紫外可见光谱对薄膜进行了表征。结果表明薄膜结晶性能良好,在(002)晶面具有明显的c轴取向。随着薄膜厚度的增加,透射率下降,吸收边红移,禁带宽度逐渐减小。
黄飞孙仲亮孟凡明孙兆奇
关键词:射频磁控溅射ZNO薄膜微结构光学性能
半连续Ag膜的多重分形研究被引量:2
2006年
用透射电镜(TEM)观察了用直流磁控溅射法制备的厚度为1.5nm^67nm的半连续Ag膜的形貌,并用多重分形理论定量表征不同厚度半连续Ag膜中Ag小岛的面分布均匀性及其尺寸分布。结果显示:随着薄膜厚度的增加,多重分形谱的谱宽Δα先增大后减小,在6nm^12nm之间出现最大值,表明薄膜中小岛的面分布均匀性是由均匀到不均匀再到均匀的变化过程;当薄膜厚度达到某一临界值(在12nm^67nm之间)时,Δf从<0向>0发生转变,此时薄膜中小岛的尺寸分布由较大程度上取决于体积最小的小岛向较大程度上取决于体积最大的小岛过渡。
孙兆奇吕建国高清维
关键词:多重分形谱TEM薄膜厚度
MoO3纳米纤维TEM图像的多重分形谱被引量:4
2008年
用多重分形方法研究了透射电镜(TEM)观察到的-αMoO3纳米纤维的形貌。TEM观察表明,样品中纳米纤维的分布和均匀程度都随着HNO3浓度的增加而增大,形貌由纤维状向带状过渡。多重分形谱的分析显示,随着HNO3浓度的增加,Δf从0.4345增大到2.4530,样品中纳米纤维的最大概率分布的数目多于最小概率分布的数目,说明纳米纤维数目和宽度均增加;分形谱宽Δα愈来愈小,表明纳米纤维的分布愈来愈均匀。因此,多重分形谱可以很久地表征α-MoO3纳米纤维的分布特性。
吕建国戴结林宋学萍孙兆奇
关键词:MOO3多重分形谱纳米纤维TEM
分形理论及其在薄膜微结构研究中的应用被引量:1
2007年
介绍分形的基本概念以及几种常用的计算简单分形维数的方法,用分形研究Au-MgF2纳米金属介质复合薄膜中Au颗粒和半连续Ag膜中Ag小岛的分布规律。结果表明:复合薄膜中Au颗粒的分形维数随Au含量的增加由1.5516逐渐增大到1.7671,表明金属介质复合薄膜中Au颗粒的平均尺寸随着Au含量的增加而增大;半连续Ag膜中Ag小岛的分形维数随厚度的增加从1.4051增大到1.7428,说明半连续Ag膜的覆盖率随着其厚度的增加而增大。这一结果与实验结果一致,因此分形可以用来定量表征薄膜显微结构的演化规律。
吕建国蔡琪宋学萍孙兆奇
关键词:分形分形维数
Au-MgF_2团簇薄膜TEM图像二值化阈值选取的研究
2007年
用透射电镜(TEM)观察磁控溅射制备Au-MgF2团簇薄膜的形貌,对团簇薄膜TEM图像采用灰度平均值法和Boltzmann拟合参数法进行二值化处理,并用分形理论表征薄膜中Au团簇的分布规律。结果显示:随着Au体积分数从6.0%增加到49.0%,用灰度平均值法所得分形维数由1.851增大到1.869,而由Boltzmann拟合参数法所得分形维数从1.669逐渐增大到1.941。两种方法所得分形参数均能表征Au团簇的尺寸和分布复杂程度随体积分数的变化规律,而由Boltzmann拟合参数法所得结果还能很好地表征不同体积分数薄膜Au团簇分布的差异性。
吕建国戴结林宋学萍孙兆奇
关键词:TEM二值化阈值
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