-
张东
-
![](/images/user-pic.gif)
-
![](/images/index-lm-pic2.jpg)
- 所属机构:北京自动测试技术研究所
- 所在地区:北京市
- 研究方向:电子电信
- 发文基金:北京市科学技术研究院科技创新工程项目
相关作者
- 于明
![](/images/user-pic.gif)
- 作品数:34被引量:42H指数:3
- 供职机构:北京自动测试技术研究所
- 研究主题:测试向量 自动测试设备 动力电池组 串行接口 管脚
- 李杰
![](/images/user-pic.gif)
- 作品数:38被引量:25H指数:3
- 供职机构:北京自动测试技术研究所
- 研究主题:集成电路测试仪 主控制器 动力电池组 自动测试设备 ATE
- 姜岩峰
![](/images/user-pic.gif)
- 作品数:109被引量:273H指数:9
- 供职机构:北京自动测试技术研究所
- 研究主题:各向异性腐蚀 硅 集成电路 MEMS JTAG
- 高剑
![](/images/user-pic.gif)
- 作品数:44被引量:82H指数:6
- 供职机构:北京自动测试技术研究所
- 研究主题:并行测试 测试向量 自动测试系统 存储器测试 串行接口
- 冯建科
![](/images/user-pic.gif)
- 作品数:27被引量:47H指数:3
- 供职机构:北京自动测试技术研究所
- 研究主题:FPGA 集成电路测试仪 测试系统 FPGA测试 VXI总线